相关考题
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单项选择题
被检工件晶粒粗大，通常会引起：（）
A.草状回波增多
B.信噪比下降
C.底波次数减少
D.以上全部 -
单项选择题
影响直接接触法耦合损耗的原因有：（）
A.耦合层厚度，超声波在耦合介质中的波长及耦合介质声阻抗
B.探头接触面介质声阻抗
C.工件被探测面材料声阻抗
D.以上都对 -
单项选择题
在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在？（）
A.缺陷回波
B.底波或参考回波的减弱或消失
C.接收探头接收到的能量的减弱
D.AB都对
