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用X射线衍射法测定CsCl的晶体结构，衍射100和200哪个强度大？为什么？
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问答题
为什么用X射线粉末法测定晶胞参数时常用高角度数据（有时还根据高角度数据外推至θ=90°），而测定超细晶粒的结构时要用低角度数据（小角散射）？
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写出Bragg方程的两种表达形式，说明（hkl）与hkl，d（hkl）与d（hkl）之间的关系以及衍射角θn随衍射级数n的变化。
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在直径为57.3mm的相机中，用CuKα射线拍金属铜的粉末图。从图上量得8对粉末线的2L值为：44.0，51.4，75.4，90.4，95.6，117.4，137.0，145.6mm。试计算下表各栏数值，求出晶胞参数，确定晶体点阵型式。
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