判断题
检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。
【参考答案】
正确
(↓↓↓ 点击‘点击查看答案’看答案解析 ↓↓↓)
点击查看答案&解析
判断题
正确
(↓↓↓ 点击‘点击查看答案’看答案解析 ↓↓↓)
微信扫一扫,加关注免费搜题