单项选择题 探伤中测定缺陷在工件中的（），称为定位。

单项选择题 双探头法中并列式扫查主要是用来发现与检测面（）的缺陷。

单项选择题 双探头法中K形扫查、串列式扫查主要都是用来发现与检测面（）的面状缺陷。