单项选择题
芯片与探测面平行，使超声波垂直与探测进入材料的检验方法称为（）。
A.直射法 B.斜射法 C.表面波法 D.上述三种都不对
单项选择题 射线源的尺寸过大，采用（）方法弥补。
单项选择题 射线照片图像的密度是指（）。
单项选择题 已知X射线机的焦点尺寸，可计算（）。
