判断题 以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，在相同深度时缺陷的回波高度也一样，则两者的缺陷铸件中的大。

判断题 深度相同但表面状态不同的缺陷，在相同探伤灵敏度下，两者的回波高度不同。

判断题 用试块对比法测得的缺陷大小与实际大小相等。