判断题 使用磁轭探伤，当磁极与探伤面接触不良时，在磁极周围不能探伤的盲区就增大。

判断题 灵敏度标准试片可用来测定磁粉探伤系统的综合性能和磁粉性能。

判断题 A型标准试片上施加磁粉是用剩磁法进行的。